布鲁克三维光学轮廓仪
bruker 白光干涉仪ContourX-200
ContourX-200光学轮廓仪融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。
ContourX-200还配有业界的操作和分析软件Vision64。的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可访问多种预编程滤镜和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
特点
·易于使用的界面,可快速准确地获得结果
·自动化功能用于日常测量和分析
·泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析
·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
白光干涉技术内在优势
垂直分辨率
普适性易于操作、各种样品类型与表面
计量
硬件为性能所做优化
高质量计量作为桌面型轮廓仪
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