Bruker布鲁克DektakXT 台阶仪
Bruker布鲁克台阶仪
德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新,更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。
第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。
台阶仪Dektak XT能实现:
· 的性能,台阶高度重现性低于4埃
· Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性
· *的“智能电子器件"设立了新低噪音基准
· 新硬件配置使数据采集时间缩短40%
· 64-bit,Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度提高了10倍
· 频率,操作简易
· 直观的Vision64用户界面,操作简易
· 针尖自动校准系统
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