Bruker原子力显微镜-- Dimension Icon

Bruker公司的AFM具有多项术，以其的性能应用于科研和工业Dimension Icon 系列作为布鲁克公司(Bruker AXS)原子力显微镜的旗舰产品，凝聚了多项行业技术，是二十多年技术、客户反馈和行业应用的结晶。

应用：

应用于科研和工业，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等域的监测等各类科研和生产工作。

原理：

将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针，针与样品表面轻轻接触，由于针端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针的微悬臂将对应于针与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。

原子力显微镜的工作模式是以针与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。

特征：

u 低漂移和低噪音水平

u 配置有专有ScanAsys原子成像优化技术，可以简易快速稳定成像

u 测试样品尺寸可达：直径210mm，厚度15mm

u 温度补偿位置传感器使Z轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平，并呈现出的高分辨率。

u 全新的XYZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度。

u 探针和样品台的开放式设计使Icon 可胜任各种标准和非标准的实验。