国创科仪 快扫型X射线吸收谱仪 SuperXAFS V8000
核心参数
1.能量范围：5-12keV
2.能量分辨率：1-3eV@7-9keV
3.光通量：探测器处至大计数率≥1×10⁶ photons/s @8keV
4.单色器晶体：配备柱面弯曲分光晶体，曲率半径为250mm
5.面探测器：像素尺寸 75um*75um
6.有效面积：77mm*38mm
国创科仪 快扫型X射线吸收谱仪 SuperXAFS V8000
快扫型X射线吸收谱仪是一种用于研究材料局部结构和电子状态的非破坏性技术。该技术利用 X 射线与物质的相互作用，获取指定元素的近边吸收谱(XANES)、扩展远边吸收谱(EXAFS)和特定能带发射谱，分别用于分析元素的化学状态和价态、原子周围局部环境的配位结构，以及甄别测量元素的配位原子类别，是表征晶态和非晶态材料微观配位结构的重要手段。XAFS/XES主要应用于催化剂 、合金、陶瓷、环境污染物、各类晶态和非晶态材料及生物样品内金属离子的价态、配位结构及电子状态分析，以及材料局部结构在热场、光场、电场和磁场变化下的局部结构动态演化过程研究等。
X 射线吸收谱仪的应用领域
催化剂研究
分析催化剂活性中心的金属价态(如 Pt²⁺/Pt⁰)、配位环境及原子间距，揭示催化反应机理(如燃料电池催化剂的氧还原活性)。
跟踪催化剂在反应中的结构演变(如 CO 氧化反应中 Cu 基催化剂的价态变化)。
纳米材料表征
测定纳米颗粒(如量子点、纳米氧化物)的表面原子配位和缺陷浓度(如 TiO₂纳米管中的氧空位)。
研究纳米复合材料的界面电子结构(如石墨烯 - 金属纳米颗粒的电荷转移)。
功能材料分析
探测电池电极材料(如 LiCoO₂)的锂嵌入 / 脱出过程中元素价态变化，优化电池性能。
分析磁性材料(如 Fe₃O₄)的局域磁环境，解释磁有序机制。
