深圳膜厚仪是一款全新开发研制的集镀层测厚、RoHS指令/卤素指令/八大重金属指令一体的X荧光光谱仪。集准确、快速、无损、直观及环保五大特点,采用分析仪器行业的极速探测器技术(SDD)。采用德国专业技术,可实现图像联动控制,多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便,全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。
深圳膜厚仪的产品特点:
1、操作界面简单,测量方便,快捷;
2、采用127±5eV的高精度分辨率,保证数据测量的精度;
3、能够检测卤族元素的精确含量;
4、电制冷型的X光管配合光管保养程序,散热更好,并能有效的延长X光管的寿命;
5、外观高贵大方,加大仪器内部空间,仪器内部通风性优,并有效屏蔽电磁干扰;
6、采用*双峰位快速自动校准;
7、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成;
9、的定量分析算法,包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、神经网络算法等;
10、客户可根据自已的要求进行二次开发,自行开发任意多个分析方法;
11、设置了自动安全防护开关,以确保用户安全使用;
12、无损检测,在无标准样品时亦可准确分析;
13、同置高清晰摄像头,可帮助客户判断测量的部位。