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JJF1484-2014湿膜厚度测量规校准规范

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JJF1484-2014湿膜厚度测量规校准规范货号AUBAT-1484S带平面工作台的钢性表架本规范适用于测量范围为(0~3000)μm的湿膜厚度测量规的校准

详情介绍

JJF1484-2014湿膜厚度测量规校准规范

货号AUBAT-1484S

带平面工作台的钢性表架

 

本规范适用于测量范围为 (0~3 000) μm 的湿膜厚度测量规的校准。湿膜厚度测量规按结构型式分为梳规和轮规两种。梳规是一种由耐腐蚀材料制成,边缘排列一系列矩形齿的量规。其每边两端形成一条基线,沿着该基线排列的齿顶与基线形成了一个用于测量湿膜厚度的高差系列。常见有正方形、正六边形等,主要用于测量平整或轻微弯曲表面的湿涂层厚度。轮规是一种由耐腐蚀材料制成,且由两个相同直径与一个较小直径的轮缘组成的量规。具有相同直径的轮缘同心且外侧标有刻度,每刻度表示该位置较小轮缘 (工作面)与同心轮缘(基准)间高差所对应的厚度标称值。主要用于测量平整或均匀弯曲表面的湿涂层厚度。

 


示值误差

湿膜厚度测量规示值误差校准点,选择在有厚度标称值的位置进行测量。对于轮规,一般不超过均匀分布的 10 个测量位置。

1梳规的示值误差

测量范围在 (5~100) μm内的梳规

用光学计测量,测量时选用刃口形测帽,先将梳规固定在专用夹具上,然后再置于光学计工作台上,调整专用夹具,使每一组尺寸的基准齿*高点等高 (即基线与测量轴线垂直),测帽的短边与基线平行,将测帽与基准齿齿顶*高点相接触,从光学计读数ao,移动专用夹具,使测帽与相应的被测齿顶虽高点相接触,从光学计读数 ai,按公式计算各测量位置的读数 a;a。的差值,即该齿顶到基线的高差,以高差的**值作为厚度测量结果 h;。其标称值与该管之差即为校准结果。

 

测量范围大于 100 μm的梳规

用工具显微镜测量,测量时将梳规水平放置在工作台上,选取 5X物镜,使每一组尺寸的基线与目镜十字线的水平线平行,瞄准基线,读数 ao,横向移动工作台,使目镜十字线的水平线分别与相应的被测齿顶*高点对齐,读数 a;,按公式 计算该齿顶到基线高差的**值并作为厚度值,其标称值与该值之差即为校准结果。也可使用满足测量不确定度要求的其他测量方法进行测量。

 

2轮规的示值误差

测量范围在 (0~125)μm内的轮规

用光学计测量,测量时选用刃口形测帽,将轮规放在专用夹具上,有刻线的一面放在便于观察的位置,调整专用夹具,使轮规的中心轴线与刃口形测帽长边垂直。调整测杆使测帽与基准圆有厚度标称值刻线的外径接触,此时读数为 a,移动专用夹具,使测帽与另一侧的基准圆接触,读取另一基准圆在相应位置的读数 a,以及与相应位置较小轮缘接触并读数 a;,按公式计算该位置的厚度值 h;,其标称值与该值之差即为校准结果。

测量范围大于 125 μm的轮规

用数显千分表测量,测量时将数显千分表安装在表架上,并选用圆平面测头:轮规放在专用夹具上并置于平面工作台上,有刻线的一面朝外,根据实际情况调整数显千分表的高度; 用公式计算该位置的厚度值,其标称值与该值之差即为校准结果。


 

 

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