JJG21-2008千分尺检定规程
货号AUBAT-21Q
钢球检具
检定两测量面的平行度；
JJG21-2008千分尺检定规程适用于分度值为 0.0 mm，测量上限至 500 mm 的外径千分尺;测量上限至25 mm 的板厚、壁厚千分尺; 以及分辨力为 0.001 mm，0.000 1 mm，测量上限至500 mm的数显外径千分尺的检定检验。千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆，测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。
计量性能要求
1测微螺杆的轴向串动和径向摆动测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于 0.01 mm。
2 测力
千分尺的测力 (系指测量面与球面接触时所作用的力) 应为(5~10)N
3 刻线宽度及宽度差
微分筒刻线宽度为(0.08~0.20)mm，固定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差均应不大于 0.03 mm。带刻度盘的刻线宽度为(0.20~0.30)mm，其宽度差应不大于0.05 mm.
4 指针与刻度盘的相对位置板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的 30%~80%，指针末端上表面至刻线度盘表面的距离应不大于 0.7 mm。指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于 0.05 mm。
5微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的距离应不大于 0.4 mm。
6 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于 0.05 mm，离线不大于0.1 mm .
7测量面的平面度
外径千分尺测量面的平面度应不大于 0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺测量面的平面度应不大于 1.5μm。数显外径千分尺测量面平面度应不大于 0.3μm。
8 数显外径千分尺的示值重复性数显外径千分尺的示值重复性应不大于 1μm。
9 数显外径千分尺任意位置时数值漂移在任意位置时的数值漂移应不大于 1μm /h。
10 示值误差
壁厚千分尺、板厚千分尺示值的*大允许误差应不超过±8μm。
对于测量上限大于 150 mm 的千分尺可只检测微头示值误差，测微头各点相对于零点的示值*大允许误差不超过±3μm。
11 数显外径千分尺细分误差
数显外径千分尺数显装置的细分误差应不超过±2μm。
检定方法：
两测量面的平行度
测量上限至 100 mm 千分尺两测量面的平行度用 4 块厚度差为 1/4 测微距的平行平晶检定。也可用量块检定，数显千分尺用 4 等量块检定，外径、板厚千分尺用 5等量块检定。测量上限大于 100 mm 的千分尺两测量面的平行度用图 10 钢球检具检定两测量面的平行度也可用其他相应准确度的仪器检定。使用平行平品检定时，依次将 4 块厚度差为 1/4 螺距的平行平品放入两测量面间使两测量面与平行平晶接触，转动棘轮机构，并轻轻转动平晶，使两测量面出现的干涉环或干涉带数目减至*少。分别读取两测量面上的干涉条纹数，取两测量面上的干涉条纹数目之和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。利用平行平晶组中每块平行平晶按上述程序分别进行检定，取其中*大值作为受检千分尺的两测量面平行度测量结
货号AUBAT-21Q
钢球检具
检定两测量面的平行度；
JJG21-2008千分尺检定规程适用于分度值为 0.0 mm，测量上限至 500 mm 的外径千分尺;测量上限至25 mm 的板厚、壁厚千分尺; 以及分辨力为 0.001 mm，0.000 1 mm，测量上限至500 mm的数显外径千分尺的检定检验。千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆，测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。
计量性能要求
1测微螺杆的轴向串动和径向摆动测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于 0.01 mm。
2 测力
千分尺的测力 (系指测量面与球面接触时所作用的力) 应为(5~10)N
3 刻线宽度及宽度差
微分筒刻线宽度为(0.08~0.20)mm，固定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差均应不大于 0.03 mm。带刻度盘的刻线宽度为(0.20~0.30)mm，其宽度差应不大于0.05 mm.
4 指针与刻度盘的相对位置板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的 30%~80%，指针末端上表面至刻线度盘表面的距离应不大于 0.7 mm。指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于 0.05 mm。
5微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的距离应不大于 0.4 mm。
6 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于 0.05 mm，离线不大于0.1 mm .
7测量面的平面度
外径千分尺测量面的平面度应不大于 0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺测量面的平面度应不大于 1.5μm。数显外径千分尺测量面平面度应不大于 0.3μm。
8 数显外径千分尺的示值重复性数显外径千分尺的示值重复性应不大于 1μm。
9 数显外径千分尺任意位置时数值漂移在任意位置时的数值漂移应不大于 1μm /h。
10 示值误差
壁厚千分尺、板厚千分尺示值的*大允许误差应不超过±8μm。
对于测量上限大于 150 mm 的千分尺可只检测微头示值误差，测微头各点相对于零点的示值*大允许误差不超过±3μm。
11 数显外径千分尺细分误差
数显外径千分尺数显装置的细分误差应不超过±2μm。
检定方法：
两测量面的平行度
测量上限至 100 mm 千分尺两测量面的平行度用 4 块厚度差为 1/4 测微距的平行平晶检定。也可用量块检定，数显千分尺用 4 等量块检定，外径、板厚千分尺用 5等量块检定。测量上限大于 100 mm 的千分尺两测量面的平行度用图 10 钢球检具检定两测量面的平行度也可用其他相应准确度的仪器检定。使用平行平品检定时，依次将 4 块厚度差为 1/4 螺距的平行平品放入两测量面间使两测量面与平行平晶接触，转动棘轮机构，并轻轻转动平晶，使两测量面出现的干涉环或干涉带数目减至*少。分别读取两测量面上的干涉条纹数，取两测量面上的干涉条纹数目之和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。利用平行平晶组中每块平行平晶按上述程序分别进行检定，取其中*大值作为受检千分尺的两测量面平行度测量结
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