测量结果准确性好
	测量原理为全程Mie Scattering理论，结合本公司的反演算法，加之精密的机械、光学系统设计、的电子元器件，在理论和性能上保证了测量结果的准确性。
	测量范围宽
	前向散射光接收采用本公司技术交叉扇形大尺寸主光电探测阵列（66个通道）、高灵敏度双侧向光电探测阵列（每侧4个通道），使单透镜测量范围达0.1～600μm，可测量D50从300～400nm直至400～500μm的众多样品，以满足大多数用户对粒度测量范围的需要。
	测量重复性好
	仪器设计采用高灵敏度光电探测阵列，低噪声信号放大器，高位模拟数字转换器，保证电路部分噪声降至。使用进口半导体激光器（寿命长达25000小时）及本公司自行研制的激光准直系统，激光光斑能量分布均匀，形状规则。进样系统具有转速调节装置，保证样品在测量窗口中分布均匀。以上种种措施确保仪器测量结果具有良好的重复性。
	测试速度快
	高速采样系统，采样速度达到4500次/秒；全隔离USB2.0通讯接口，提高了通讯速度；采用微量进样系统，样品制备过程简单，清洗速度快。一般在20秒之内，就可以完成一次测试过程。
	测量软件功能完备
	仪器采用电脑进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存和打印等功能,操作简单,自动化程度高。测量软件具有SOP功能，数据库功能以及多种数学模型，功能完备，操作简单，易学易用。

• 1.基本功能：样品测试、保存/打印、分析报告等。
• 2.高级功能：
• 1)sop功能：对常用的样品制备方式、样品参数、分散剂参数、测试参数等数据进行归纳，保存成SOP文件，如需要对此样品进行测试，可以直接调用此SOP文件并启动SOP测量方式，方便用户测量，无需另行输入相关测试参数。
• 2)自动标定系统：激光颗粒分布测量仪具有国内的数据自动标定系统，本系统可根据已知的标准样品的数据，对仪器进行自动标定。
• 3)数据库功能：可将常用的样品及分散剂折名称、折射率、吸收率、样品的制备信息等保存到数据库中，以方便下次直接调用，无需另行输入。
• 4)截图功能：若仪器出现故障导致采样图形杂乱，可截取当前状态屏幕图像传给调试工程师，方便指导故障排除及维修。
• 3.报告存储模式：专用的GSL格式（测试软件打开）、PDF格式、BMP格式、EXCEL格式。
• 4.语言：中、英文切换。

• 1.电源设计：具有EMI防电磁干扰、防雷击 、防浪涌等设计功能，提高了对供电电源的适应性，同时也可以有效地避免由于雷击、过压等情况可能造成的仪器意外损坏。
• 2.高速采样，高精度AD变换系统，保证了对微量样品的精确分析。
• 3.全隔离高速USB2.0通讯接口，与电脑通讯速度可以达到468000kB，通讯速度快，采用隔离供电，抗干扰性强，同时避免了劣质电脑对仪器的伤害。
• 4.全半导体器件硬件设计，仪器开机后，无需预热时间，即可达到稳定的测试效果。
• 5.仪器内置温、湿度检测装置，实时检测仪器内部的温度，湿度变化，避免由于温、湿度造成的测量结果偏差。