华唯镀层测厚仪Ux-720 仪器技术指标

　　1、分析元素范围：Na-U

　　2、检测成分范围：1ppm-99.99%

　　3、检测厚度：1nm

　　4、检测厚度上限，30 - 50um（视材料而定）

　　5、检测镀层层数：1-10层

　　6、测量时间 ：30-150s ( 系统自动调整 )

　　7、分辨率：145±5eV

　　8、准直器：Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自动切换

　　9、滤光片：5种滤光片自动切换

　　10、CCD观察：260万像素高清CCD

　　11、样品微动范围：XY15mm

　　12、仪器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

　　13、样品腔尺寸：300*360*100mm；

　　14、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz

　　15、额定功率：350W

　　16、重量：约45Kg

　　17、工作环境温度：温度15—30℃

　　18、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）

　　19、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%

　　镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。

　　Ux-720探测系统

　　功能：对样品特征X射线进行探测，将采集来的信号进行数据处理，并将处理结果传输给计算机。

　　类型：Si-PIN X-123(美国)

　　Be窗 1mil(0.0254mm)

　　分辨率：145±5eV

　　系统峰背比：≥ 6200/1

　　能量响应范围：1keV — 40keV

　　推荐计数率：5000cps

　　Ux-720 精密镀层分析仪X射线荧光光谱仪是华唯公司经过3年研发，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；华唯的VisualFp基本参数法分析软件，可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降低客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。