Ux-720功能特点

　　1. 预置多条工作曲线，涵盖铜基体、铁基体、锌基体等基体类型的常见镀层，可满足用户常规镀层测量的要求；

　　2. 华唯VisualFp基本参数法分析软件，在分析镀层厚度的同时分析基材及镀层成分含量，实用价值大大超出客户的想象空间；

　　3. 人性化的软件界面与操作方法，使用图形显示技术，既方便又直观；结合大量操作经验优化操作步骤，极大方便用户；

　　4. 完善的安全连锁功能：配合硬件电路的防护措施，在不安全的操作发生时自动切断X射线确保操作员不受X射线伤害；

　　5. 数据管理：由数据库支持的专业化报表生成、查询打印等功能极大方便企业管理；

　　6. 智能化软件保护，避免不当操作对光谱仪的损伤，延长仪器使用寿命；

　　7. 数据自动保存：所有样品测试后的数据均会自动保存，测试结果具有可追溯性；

　　8. 稳定性自检功能：可即时对仪器当前稳定性进行自动检测；

　　9. 软件具有对多次测试结果的统计功能，极大地方便管理。

　　镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。