32工位高通量XRF检测仪(XRF-S32)是一款高通量XRF（X射线荧光光谱分析）检测仪，可一次检测多达32个样品，缩短多个样品检测时的测试周期。该系统主要由手持式XRF检测仪、二轴运动平台、32工位样品台以及远程笔记本控制系统四部分组成，具有高的灵敏度，可以在样品元素含量在极低浓度的条件下（ppm级）快速简单的测量出样品中所含的各元素（Ne到Pu）。32工位高通量XRF检测仪可广泛应用于合金材料成分分析及筛选过程、高熵合金成分分析、新型磁性材料以及固态陶瓷电解质材料等材料的分析研究当中去。
产品名称 | 32工位高通量XRF检测仪 |
主要特点
| 1、该系统由手持式XRF检测仪、二轴运动平台以及32工位样品台以及远程笔记本控制系统四部分组成 2、XRF检测仪可通过USB数据线与电脑连接，确保实验人员可以在安全的距离上操作 3、一次放置样品数量可达32个，实现高通量的材料成分检测 4、设置有X射线指示灯，观察窗口采用铅玻璃材质，确保X射线的安全使用
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XRF检测仪 |
2、具有安全联锁结构，避免X射线的意外泄露 3、USB数据线与电脑连接在安全距离处进行检测，保证操作人员的安全（图2） |
软件控制
| 笔记本电脑中包含预先安装好的X射线源控制软件，探测器控制软件以及光谱分析软件用于仪器各部分的控制和数据分析 强大的XRF控制系统以及光谱分析软件可以进行测量的定制和优化，特别适用于研究复杂样品和未知样品 光谱分析软件可用于样品的定性和定量分析 样品一般为块体或薄膜 可对空气中的衰减和吸收进行完整的校正 可对55种元素进行实时分析 可选择自动模式进行连续或重复性的分析 |
二轴运动平台
| 触摸屏显示控制，操作方便 检测时间（转换工位停留时间）、X-Y轴移动速度、结束工位等参数可调，实现自动换样 搭配32工位样品台可进行高通量材料成分检测
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32工位样品台
| 样品可放置于32工位样品台上 样品台与二轴运动平台搭配使用，实现高通量材料成分检测（如下图）
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技术参数 | 电源：220V AC ，50/60Hz，单相 |
产品规格 | 尺寸：1000×800×1000mm；重量：120kg |
注意事项 | 前门观察窗口采用铅玻璃材质，可衰减X射线强度，检测时需关闭前门，起到防护作用 建议XRF检测时远离箱体36cm进行操作 |
质量认证 | CE认证 符合WEEE指令、EMC指令、RoHs（中国）、FCC（美国）以及ICES-001（加拿大）等各项认证
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