产品介绍

CMI900

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，CMI900有着非破坏，CMI900非接触，CMI900多层合金测量，CMI900高生产力，高再现性等优点，CMI900在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。CMI900用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。主要特点样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST的标准片

CMI900X射线荧光测厚仪

技术参数

主要规格 规格描述 
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 
装备有安全防射线光闸 
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 
准直器程控交换系统 多可同时装配6种规格的准直器 
多种规格尺寸准直器任选： 
－圆形，如4、6、8、12、20 mil等 
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 

测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 
在12.7mm聚焦距离时，大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 
样品室 CMI900 CMI950 
－样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 
－大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm 
－XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm 

详细资料