bruker原子力显微镜布鲁克Dimension FastScan|应用于材料科学、半导体、生命科学领域等

扫描速度的全新诠释，拥有高的扫描分辨率，优异的仪器检测性能

Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和的仪器性能前提下，大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。

Dimension Fastscan将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。

■采用低热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。
■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。
■开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。
■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。
■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。
■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度>100Hz,图像分辨率同样不会降低。
■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。

■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。
■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。
新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到好的激光信号调节。
■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了
低的噪音和热漂移水平。