介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～60MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
2 主要技术指标：
2.1 测试信号频率范围：10kHz～60MHz，数字合成，可数字设置或连续调节，五位有效数显。
2.2 Q值测量范围：1～1000四位数显，分辨率0.1Q。分100、316、999三档，量程可自动切换。
2.3 Q值固有误差：±5%±3% 满刻度值。
2.4 有效电感测量范围：0.1µH～1000mH。
2.5 电感测量误差：≤5%±0.02µH
2.6 调谐电容特性：
2.6.1可调电容范围：40pF～500 pF。
2.6.2 精确度：±1% 或0.5pF。
2.6.3微调电容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF
2.6.4残余电感值：约30nH。
2.7 Q预置功能：Q预置范围：1～1000均可。
1工作特性
1.1 平板电容器：
1.1.1 极片尺寸：
c类-38：Φ38mm.
c类-50：Φ50mm.
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率：
≥8mm， ±0.002mm
1.2 夹具插头间距：
25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
≤2.5×10-4
附表二,LKI-1电感组典型测试数据
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125μH
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