安捷特ACZET镀层测厚仪CUBE-X系列产品介绍
测量方向:由上向下镀层元素范围:Al铝~U铀电压:50kV()探测器(可选):正比计数器、Si-Pin、SDD硅漂移单准直器: ?镀层层数:多至5层测量点尺寸:圆形测量点,直径约毫米-毫米测量时间:30秒-180秒样品仓尺寸:375mm (长)x 350mm (宽) x 255 mm (高)仪器尺寸:605mm (长) x 405mm (宽) x 415 mm (高)同时定量测量8个元素。定性材料达24个元素。
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安捷特ACZET镀层测厚仪CUBE-X系列产品介绍 测量方向:由上向下镀层元素范围:Al铝~U铀电压:50kV(1.2mA)探测器(可选):正比计数器、Si-Pin、SDD硅漂移单准直器:0.3mm0.5mm?镀层层数:多至5层测量点尺寸:圆形测量点
安捷特ACZET镀层测厚仪CUBE-X系列产品介绍
测量方向:由上向下镀层元素范围:Al铝~U铀电压:50kV()探测器(可选):正比计数器、Si-Pin、SDD硅漂移单准直器: ?镀层层数:多至5层测量点尺寸:圆形测量点,直径约毫米-毫米测量时间:30秒-180秒样品仓尺寸:375mm (长)x 350mm (宽) x 255 mm (高)仪器尺寸:605mm (长) x 405mm (宽) x 415 mm (高)同时定量测量8个元素。定性材料达24个元素。
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