广告招募

当前位置:全球制造网 > 技术中心 > 产品文库

开尔文探针详情介绍

2026年06月11日 15:48:00      >> 进入该公司展台      阅读量:2

分享:

 开尔文探针详情介绍

 

开尔文探针

主要应用范围:有机和非有机半导体、金属、薄膜、太阳能电池和有机光伏材料、腐蚀等领域的研究。

功函分辨率1-3meV。

扫描面积:5mm-300mm(四种型号,各型号扫描面积 不同)。

扫描分辨率:0.3um。

自动高度调节。

产品特点:

单点开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势,表面功函。由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3meV业界分辨率的测试系统。

应用领域:

有机和非有机半导体

金属

薄膜

太阳能电池和有机光伏材料

腐蚀

升级附件:

大气光子发射系统

表面光电压(QTH or LED)

SPS表面光电压光谱(400-1000nm)

金或不锈钢探针,直径0.05mm to 20mm

相对湿度控制和氮气环境箱

版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:全球制造网"的所有作品,版权均属于全球制造网,转载请必须注明全球制造网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。