冠层NDVI测定仪对玉米生长的分析表明

    冠层NDVI测定仪是托普云农为人们进一步探索植物冠层而研发的专用设备。它能有效分析计算出叶面积指数、归一化植被指数、植辐射指数和氮数含量，对评估植物叶片生理及病害状况十分有用。

    为研究一种快速有效获取玉米叶绿素空间分布信息的方法，曾有农业人士就研究了玉米苗期冠层叶片光谱反射率的变化特征，分析了不同生长阶段冠层叶片光谱反射率的空间分布和叶绿素质量浓度的空间分布。据冠层NDVI测定仪的测量分析表明：玉米苗期冠层叶片叶绿素的质量浓度空间分布不均匀。冠层叶片的叶绿素质量浓度与光谱指数RVI的相关性较低，与归一化差异植被指数NDV1值和550 nm波段的反射率均有较高的相关性。分析550nm波段的反射率值与冠层叶片叶绿素质量浓度值的相关关系，显示二者成负相关变化趋势，相关系数值在0.69~0.88范围随着生长期的变化而逐渐增大，五叶期前期的相关性系数值达到苗期值，表明550nm波段反射率值能够较好的反映玉米苗期叶绿素质量浓度的水平，分析和掌握550nm波段反射率值的变化及其空间分布特性对快速监测玉米苗期生长状况，对指导田间施肥具有重要意义。
    由此也可以看出，冠层对玉米生长的影响，依据冠层NDVI测定仪的测量分析，不仅能有效判断出生长状况，还能检测出叶片叶绿素的质量浓度，为田间施肥管理提供了科学依据，最终提高玉米的产量和品质。