颗粒粒径分析仪是一种用于测量和分析颗粒物体的粒径（尺寸）分布的仪器。它可以应用于不同领域，如材料科学、环境监测、食品工业、制药等。
颗粒粒径分析仪可以使用多种测量原理进行粒径分析，其中常见的包括：
1.激光散射原理：通过激光束照射到样品上，测量散射光的角度和强度变化，从而计算出颗粒的粒径分布。
2.动态光散射原理：利用颗粒在液体或气体中的扩散运动，通过测量光散射的强度和时间变化，计算出粒径分布。
3.图像分析原理：基于图像处理技术，通过拍摄颗粒的图像并分析其形状和大小，得出粒径分布。
测量范围：
测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品，颗粒跟Z技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。
1.快速高效：能够快速地测量大量颗粒，并生成粒径分布曲线或报告。
2.宽尺寸范围：能够测量不同粒径范围的颗粒，从纳米级到几毫米甚至更大。
3.自动化功能：一些颗粒粒径分析仪配备自动进样和数据处理功能，提高操作效率和减少人为误差。
4.多种参数测量：除了粒径，还可以测量颗粒的形状、浓度、表面电荷等参数。
