日本TSS-5X-3远红外线发射率测试仪产品构成：

１．红外线照射源

藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在材料中集中照射。

２．红外线检验素子

从材料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。

注：比率是依据光学系的构造来决定。

３．发射率演算回路

从反射能量检验器的输出，演算试料的发射率。

注：材料的反射率和发射率的关系式如下：r εε＝１－r

４．放射率表示値的校正

用发射率标准片（ε＝０．０６与０．９４）做校准.

测量原理：利用恒温放射的远红外线发射源，将能量照射后计算所反射的能量。

测量波长：2-22μｍ

测量范围：0.00-1.00

额定精度：±0.01

测量面积：Φ15mm

测量距离：12mm（固定探头的脚柱部）

被测物温：10-40℃（室温）

输  出：0-0.1V，0-1V（满载）

使用温度：10-45℃

使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）

使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz

外型尺寸：探头Φ51X137mm（0.5Kg）    

主机：H170X W306ｘD230mm（5Kg）

配件：发射率标准片0.94、0.06各一片。

代理商：北京华睿志达科技发展有限公司

Beijing Huaruizhida TechnologyDevelopment Co.Ltd.,

北京华瑞森科技发展有限公司

Beijing Huaruison TechnologyDevelopment Co.Ltd.,