国家实验室膜厚测量解决方案 NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪（国家实验室膜厚测量解决方案）是一款技术先进的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力，在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。此外Vista Learning算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计。反射通道的光斑尺寸可轻松从 1.5 毫米调节至 0.2 毫米，这大大拓展了厚度测量的应用范围。作为一款桌面设备，NS-Vista 代表了该领域的先进技术。
NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪的特色：
1、双通道同时测量反射率与透射率，皆可结算厚度；
2、测量高反射率与低反射率样品能力，玻璃基底的膜厚测量不再难；
3、0.2mm到1.5mm光斑超宽动态调整范围；
4、Vista Learning 算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计；
反射透射测量双通道膜厚仪的操作要求需结合光学原理与精密仪器规范，以下是具体操作要点：
环境控制
实验室温度应保持20-25℃，湿度低于60%，避免温度波动导致的热胀冷缩影响测量结果。
远离电磁干扰源（如高频设备），防止信号噪声影响双通道数据稳定性。
样品处理
清洁被测表面，使用无水乙醇擦拭去除油脂和颗粒物。对于不规则样品，可选用专用夹具固定，确保测量区域与光学镜头垂直。
参数设置
根据材料类型（如半导体薄膜、金属涂层）选择对应的反射/透射模式，并输入预设厚度范围以提高计算精度。
调整光源强度与积分时间，平衡信噪比与测量效率，尤其针对弱吸收材料。
数据采集
启动测量后，旋转平台带动样品进行极坐标扫描，通过高灵敏度光谱仪捕获反射光信号。系统实时显示采样点的光谱曲线，软件自动匹配数据库中的特征峰位，计算出各点的精确厚度值。
注意事项
定期清洁光学窗口，避免灰尘遮挡光路；每季度使用标准膜片验证系统精度。
避免用于非水平面的测量；测量时应保持机身平衡，不得晃动。
