DIATEST塞规式测量头是基于比较法进行测量的。在使用前，需根据被测工件的预期尺寸制造一个相应精度的标准环规(或校对环规)。将测头放入该环规中设定基准值，之后再把测头置入实际要检测的孔径内，即可直接读出偏差数据；采用镀硬铬导向圆柱体与校对环规配合实现准确定位，有效解决了孔径测量中的对中难题。
这种设计确保了每次测量时测点都能准确对准被测孔的中心轴线，从而提升了重复性和一致性；当测头的碳钢测点接触被测表面并发生径向移动时，位移会以1:1的比例实时传递至显示单元。同时，内置弹性体提供恒定的测力，范围控制在0.5-1N之间，既保证了接触的稳定性，又消除了人为操作力度不均带来的误差干扰。
系统提供丰富的可选型号及配件，可根据具体应用场景选择合适的测头类型，如盲孔专用测头或标准测头等，满足多样化的工业需求；整体采用高强度材料制造，结合科学的力学分布设计，确保长期使用下仍能保持稳定性能，降低维护成本。
DIATEST塞规式测量头的测定步骤：
1.预估孔的尺寸：这一步骤可以有效预估孔的大致范围，为后续准确测量做准备。
2.逐步试装塞规：从找到的可能适合的塞规开始，如果能顺利插入被测孔内，则继续尝试装入大一规格的塞规；重复此过程，直到某一规格的塞规无法装入为止。通过这种方式能够较为准确地确定孔的实际尺寸。
