HAST非饱和高压加速老化箱的HAST试验是指高加速温度、湿度、应力试验。随着近来电子技术的高速发展，几年前刚刚出现的的加速试验可能不再适应当今的技术了，尤其是那些专门针对微电子产品的加速试验。例如，由于塑料集成电路包的发展，现在用传统的、普遍被接受的85℃/85%RH的温度/湿度试验需要花上千小时才能检测出新式集成电路的失效。在大多数情况下，试验样本在整个试验中不发生任何失效。不发生失效的试验是说明不了什么问题的。而产品在使用中必定会偶尔失效。因此，需要进一步改进加速试验。HSAT就是为代替老的温度/湿度试验而开发的方法。
1.标准设计更安全:内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范；
2.多重保护功能:各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护；
3.稳定性更高:控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式，确保测试稳定性；
4.湿度自由选择:饱和(100%R.H湿度)与非饱和(75%R.H湿度)自由设定)；
5.智能化高:支持电脑连接，利用usb数据、曲线导出保存。
HAST非饱和高压加速老化箱的规范要求：
1.HAST老化箱内胆采用圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
2.配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
3.标准配备8条试验样品信号施加端子，也可以根据需要增加端子数量，最多具备55条偏压端子。
4.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业。
