2025年08月04日 18:24:10 来源:郑州成越科学仪器有限公司 >> 进入该公司展台 阅读量:11
表1.各种薄膜沉积方式的优劣对比
| 项目 | 原子层沉积(ALD) | 物liqi相沉积(PVD) | 化学气相沉积(CVD) | 低压化学气相沉积(LPCVD炉管) |
| 沉积原理 | 表面反应-沉积 | 蒸发-凝固 | 气相反应-沉积 | 低压化学气相沉积(炉管式) |
| 沉积过程 | 层状生长 | 形核长大 | 形核长大 | 形核长大 |
| 台阶覆盖力 | 优良 | 一般 | 好 | 好 |
| 沉积速率 | 慢 | 快 | 快 | 较慢 |
| 沉积温度 | 低 | 低 | 高 | 更高 |
| 沉积层均匀性 | youxiu | 一般 | 较好 | 更好 |
| 厚度控制 | 反应循环数 | 沉积时间 | 沉积时间,气相分压 | 沉积时间,气体比 |
| 成分 | 均匀杂质少 | 无杂质 | 易含杂质 | 无杂质 |
| 沉积材料 | 薄膜沉积设备 | 特点 | 工艺温度 |
| 氧化硅 氮化硅 氮氧化硅 | 等离子体增强化学气相沉积系统 | PECVD, 高温 | 300-400℃ |
| 电感耦合等离子体化学气相沉积设备 | ICPCVD, 低温沉积二氧化硅,氮化硅薄膜 | <70℃或<300℃ | |
| 电子束蒸发镀膜设备(E-Gun) | 可实现+/-45度的斜角蒸发。 | RT-200℃ | |
| 多靶磁控溅射镀膜系统 | 氧化硅 可实现原位基片清洗、多层复合薄膜、多靶共溅复合薄膜沉积; | RT-60℃ | |
| 等离子体增强原子层沉积设备 | 沉积多种超薄高保形性、高台阶覆盖能力的介质薄膜材料,如金属氧化物,厚度可实现原子层的控制(1 atom-layer/cycle)。 | 室温〜500°C | |
| 卧式氧化扩散炉管(WDFSOXD03) | 1. 高品质氧化硅的干氧氧化; 2. 超厚氧化硅的湿氧氧化。 | 1100℃ | |
| 卧式低压化学气相沉积炉管(WDFSLPF02) | 1. 高品质氮化硅(Si3N4)薄膜沉积; 2. 高品质低应力氮化硅(Si3N4)薄膜沉积; 3. 氮氧化硅薄膜沉积。 | 750℃ | |
| 金属薄膜 | 电子束蒸发镀膜设备(E-Gun) | 可实现+/-45度的斜角蒸发。 | 22℃-200℃ |
| 多靶磁控溅射镀膜系统 | 1. 多种金属 2. 可实现原位基片清洗、多层复合薄膜、多靶共溅复合薄膜沉积; 3. 原位基片加热(250℃)。 | 22℃—60℃ | |
| 超高真空溅射系统 | 磁性材料溅射需与平台联系确认。 | 烘烤温度≤300℃ | |
| 离子束溅射系统 | 1. 沉积各类金属薄膜; 2. 磁性材料沉积需与平台联系确认。 | 靶面温度≤100℃, 台面温度5℃-25℃ | |
| 电子束蒸发系统 | 蒸镀铝、铜、银、钽等薄膜, | 烘烤温度≤300℃ | |
| 器件实验制备系统 | 金属Al的蒸镀 | 烘烤温度≤200℃ | |
| 非晶硅 多晶硅 | 等离子体增强化学气相沉积系统 | 非晶硅沉积 | 300-400℃ |
| 卧式低压化学气相沉积炉管(WDFSLPF01) | 1. 高品质非晶硅或多晶硅沉积; 2. 非晶硅及多晶硅沉积时的同步N型掺杂。 | 530℃ | |
| 金属氧化物 金属氮化物 氧化物半导体薄膜 | 多靶磁控溅射镀膜系统 | 1. 可实现原位基片清洗、多层复合薄膜、多靶共溅复合薄膜沉积; 2. 原位金属氧化与氮化薄膜沉积; 3. 原位基片加热(250℃)。 | 22℃—60℃ |
| 等离子体增强原子层沉积设备 | 沉积多种超薄高保形性、高台阶覆盖能力的介质薄膜材料,厚度可实现原子层的控制(1 atom-layer/cycle)。沉积较慢,厚膜需要较长时间。 | 室温〜500°C | |
| 全自动多靶溅镀系统 | 以氧化物半导体薄膜为主 | 基板加热系统:≤300℃ |
Au | Al | Cu | Ni | Cr | Pt | Sn | Ge | Ti | Ta | Mo | W | Ag | Pd | |
| 等离子体增强化学气相沉积系统 | ||||||||||||||
| 电感耦合等离子体化学气相沉积设备 | ||||||||||||||
| 电子束蒸发镀膜设备 | √ | √ | √ | √ | √ | √ | ||||||||
| 多靶磁控溅射镀膜系统 | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | |||||
| 等离子增强原子层沉积设备 | ||||||||||||||
| 超高真空溅射机 | √ | √ | √ | √ | ||||||||||
| 离子束溅射系统 | √ | √ | √ | √ | ||||||||||
| 全自动多靶磁控溅射仪 | ||||||||||||||
| 电子束蒸发系统 | √ | √ | ||||||||||||
| 器件实验制备系统 | √ |