一、导电探针的工作原理
导电探针主要应用于原子力显微镜（AFM）或扫描隧道显微镜（STM）等设备上，通过直接接触或接近样品表面来探测局部电学特性。在工作时，探针与样品表面形成一个微小的电路，当施加电压时，根据电流的变化情况可以推断出该点的导电性。对于STM而言，其基于量子隧穿效应，即当探针非常接近样品表面时，即使没有直接接触也会有电流流过；而对于AFM，则更多依赖于探针与样品间的物理接触来实现导电性的测量。
二、应用领域广泛
半导体行业：在半导体制造过程中，导电探针可用于检测芯片内部电路的连通性及电阻分布，识别潜在的缺陷位置，这对于提高成品率至关重要。
新材料研究：随着二维材料如石墨烯的研究热潮兴起，导电探针成为探索这些材料电学性质的关键工具。例如，研究人员可以利用导电探针绘制出石墨烯薄片上的电导率地图，揭示其内部结构与性能之间的关系。
生物医学工程：在生物传感器开发方面，导电探针可用于评估纳米级电极的响应特性，优化传感器设计，以实现对特定生物分子的高灵敏度检测。
三、使用技巧与维护
为了确保导电探针能够提供准确可靠的测量结果，在使用时需注意以下几点：
在进行测量之前，应仔细清洁探针，避免任何污染物影响实验结果；
调整合适的扫描参数，包括扫描速度、加载力等，防止因过度施压而损坏探针或样品；
定期检查探针状态，一旦发现磨损应及时更换，以免影响测量精度。
