1.
AFM探针的基本构造与工作原理
基本构造：
悬臂：通常由硅或氮化硅制成，具有一定的弹性系数，用于承载探针端。
端：位于悬臂末端，尺寸通常在几纳米到几十纳米之间，是直接与样品接触的部分。端的形状和材料决定了其适用范围和分辨率。
工作原理：
AFM通过测量探针端与样品表面之间的相互作用力来获取图像。当探针在样品表面上扫描时，悬臂会因这种力的变化而发生弯曲，传感器记录下这些变化，并将其转换为电信号，最终生成样品表面的三维图像。
2.探针的选择与应用
不同类型的探针：
接触模式探针：适用于较硬的样品，其特点是悬臂刚性较大，能够承受较大的压力，适合研究样品的形貌。
轻敲模式探针：适合柔软或易损样品，悬臂较为柔软，能减少对样品的损伤，广泛应用于生物样品的成像。
非接触模式探针：用于避免任何物理接触，适用于极其敏感的样品，如有机分子层或薄膜。
应用场景：
表面形貌测量：利用探针端与样品表面的直接接触或接近，获取样品表面的高度信息。
力学性质分析：通过测量悬臂的偏转量，可以分析样品的硬度、粘附力等力学特性。
电学和磁学性质研究：特殊设计的探针可以用于检测样品的电荷分布或磁场特性，适用于半导体和磁性材料的研究。
