应力双折射检测系统PV-Si是Exicor双折射测量系统系列产品的工作平台的扩展。本系统采用高质量的对称光弹性调制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光电二极管探测器，实现了光伏和半导体工业中硅材料的高精度双折射测量，除硅外，还可测量蓝宝石、碳化硅、硒锌、镉等材料。PV-Si铸锭模型坚固、通用，可容纳和测量直径达8英寸的500毫米粗锭。台面设计和直观的自动扫描软件使该产品成为原材料改进、研发和日常评估的选择，也是对原始硅锭和其他高技术材料进行评估的选择。
应力双折射仪是一种用于测量光线经过单轴晶体时的双折射现象的仪器。其工作原理基于它们的物质学性质，即单轴晶体沿一个方向具有高度对称性，沿其他两个方向则没有对称性。这使得单轴晶体对于进入的光线在两个反向传播方向上表现出不同的折射率。例如，若将一束与晶体轴夹角相等的地面光投入样品，其中一束光会同时沿着晶体轴和众多不同的方位产生折射；而另一束仅纵向通过晶体。
由两部分组成：样品和偏振器(Polarizer)。一个固定的偏振器放在样品前面，以控制作用在晶体上的光源偏振状况。然后光通过样品，被分离成两束，其中一束是O光，按照规律沿着拟合自然方向的折射面的晶面(⊥光)、另一支是E光，沿着垂直折射面的晶面(∥光)。分离后两束光会被小孔再次凝聚到一起，并由另一个偏振器检测其强度。偏振器可以wheel控制以调整其方向，以使得样品对于不同极轴之间的折射率差异变得显而易见。将其放置在微调范围内(通常为+/-20°)，从而测量双折射(doublrrefraction)产生的相位延迟。
