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BMH-J3型数显薄膜测厚仪使用

2025年07月03日 14:56:34      来源:北京兰德梅克科技开发有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:8

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  • 数显薄膜测厚仪主要技术指标:

测量范围:(0-25mm

分辨率:0.001mm

电源:氧化银电池SR44

工作温度:0~+40℃

储运温度:-20~+70℃

相对湿度:≤80%

  • 数显薄膜测厚仪主要功能:

数据输出

任意位置置零

公英制转换

自动断电

  • 数显薄膜测厚仪使用说明:
  1. 在位置(1)数据输出接口处可以输出数据,

接口为容栅数显量具接口。

  1. 按(3)ZERO键可在任意位置置零。
  2. 按键(4)mm/in键可进行公英制转换。
  3. 十分钟内不测量自动断电。
  4. 换电池方法:用扳手圆背作旋子,旋下电池盖,

换上新电池(正电极朝外),然后旋上电池盖。

  • 数显薄膜测厚仪使用注意事项:
  1. 使用和检定前,请校对零位。
  2. 电子数显部件,须防止油、水或其它液体浸入。
  3. 测微螺杆和量面必须经常清洁,使用后可涂层防锈油。
  4. 数显薄膜测厚仪是精密量具,应防止撞击,以免影响准确度。
  5. 微分筒移动距离应在刻度套管的刻线范围内,超出刻线不大于0.5mm。
  6. 薄膜测厚仪长期不使用时,应取出电池。
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