DM1230型X荧光铝硅分析仪技术参数
2025年06月18日 17:58:06
来源：上海乐傲试验仪器有限公司 >> 进入该公司展台
阅读量：14
DM1230型X荧光铝硅分析仪主要技术指标
1.分析范围：Al2O3、SiO2分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定。
2.分析范围宽度：Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2max—SiO2min≤7%。
3.线性误差：Al2O3：±0.14%，SiO2：±0.14%。
4.系统分析时间：100秒、200秒、300秒，可选。
5.分析：SAl2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%。
6.温度稳定性：在5~+40℃范围内，漂移：∣△Al2O3∣≤0.07%,∣△SiO2∣≤0.07%。
7.使用条件：环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz。
8.整机功耗：≤50W。
9.尺寸及重量：470mm×365mm×130mm，15kg。
版权与免责声明：
1.凡本网注明"来源：全球制造网"的所有作品，版权均属于全球制造网，转载请必须注明全球制造网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容，如涉及侵权、违规遭投诉的，一律由发布企业自行承担责任，本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。
4.如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系。
