名称：专业型分析天平（梅特勒-托利多） 
型号：XS205DU  
  
仪器资料： 
  
    XS分析天平
采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果
全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性
变量程设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求
革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果
易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量
触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置
可移动的显示控制终端，方便天平使用
可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁
内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备
优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序
e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新 
 
专业型分析天平XS205DU技术规格
量程 双量程
可读性 0.01/0.1mg
zui大称量值 81/220g
zui大称量值重复性（s） 0.1mg
10g重复性（s） 0.02mg
线性 ±0.2mg
1/2zui大称量1）四角误差 0.3mg
灵敏度漂移 0.0004%
灵敏度温度漂移2） 0.00015%/℃
灵敏度稳定性3） 0.0002%/a
典型称量时间4） 6s
接口更新速率 23/s
防风罩有效高度（mm） 235
秤盘尺寸（mm） 78×73
天平外形尺寸（W×D×H）（mm） 263×453×322
1）按照OIML76标准 2）温度范围10 …30℃ 3）灵敏度漂洗/年（天平使用后），激活FACT全自动校准技术 4）包括样品处理时间设置