双晶探头
这种探头有两个，一个负责发射超声波，另一个负责接收反射回波（如图1）。该探头用来检测近表面缺陷，还可测量表面或内部腐蚀的剩余壁厚（如图2所示）。
另外，灵活的SEB和MSEB系列探头，小接触面积的SEB-KF系列探头适用于检测接触面积小，结构复杂的工件检测。
型号 | 频率 | 换能器尺寸 | 尺寸 | |||
(MHz） | (mm） | Ø(mm) | 高度(mm) | |||
SEB* | 1, 2, 4 | 6 x | 20 or 7 x 18 | 45 | 65 | |
MSEB* | 2, 4, | 5 | 3 x | 10 or Ø 8 (halved) | 25 | 45 |
SEB*KF | 2, 4, | 5, 6, 10 | Ø 7 or Ø 5 (halved) | 13 | 17 | |
直探头
通过一个发射超声波和接收反 射回波（如图3）。能够检测与超声波声束 垂直的面状缺陷（裂纹或层叠），也能检测缩孔，气孔，夹杂等缺陷。B*S和MB*S系列 探头装有可替换的保护膜，即使在粗糙表面上也同样有良好的耦合效果。K*G， K*N，K*K，B*F和MB*F系列探头具有硬质保护膜（例如氧化铝），该系列探头具有灵敏度高和脉冲窄（改善纵向分辨率）等优点，对表面光滑工件。尽管如此，若在粗糙表面工件， B*S和MB*S系列探头的保护膜有可能被构件的尖锐表面划伤，应尽量使被检工件表面光滑。
型号 | 频率 | 换能器尺寸 | 尺寸 | |
(MHz） | (mm） | Ø(mm) | 高度(mm) | |
B+S | 1, 2, 4, 5 | 24 | 45 | 59 |
MB*S | 2, 4, 5 | 10 | 25 | 43 |
K*G | 1, 2, 4, 6 | 24 | 45 | 60 |
K*N | 2, 4, 6, 10 | 10 | 25 | 43 |
K*K | 2, 5, 10, 15 | 5 | 11 | 17 |
B*F | 1, 2, 4, 5 | 20 | 31 | 15 |
MB*F | 2, 4, 5, 6, 10 | 10 | 19 | 15 |
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