梅特勒超越系列名流型XP微量天平——高性能微量分析天平
梅特勒-托利多正在改变着微量分析天平世界。超越系列XP微量分析天平特别适用将微量样品直接加入大的去皮容器中。有效避免了样品转移过程中的误差，从而为您大大节省了样品成本，尤其是在称量昂贵样品时。
功能和特点
| 称量性能：该系列微量分析天平可以提供现有分析天平具有的*高分辨率：高达的50,000,000位。 |
| 天平操作：触摸显示屏提供的用户友好的操作界面。多达8个个性化设置的用户操作界面可以被自由设定、保持和恢复。 |
| SmartSens红外感应器：无需用手接触天平就可以开关防风门，将样品放置在秤盘上。称量操作更快速、更便捷。 |
| 标准特性 | 所有型号： | |||||||||||||||
|
|
| 规格 梅特勒 XP26 微量分析天平 | |
| *大称量范围 | 22 g |
| 可读性 | 1 µg |
| 重复性 | 1.5 µg |
| 灵敏度（长时间稳定） | 1x10-6/a•Rnt |
| 灵敏度（温度取样泵漂移） | 1x10-6/°C•Rnt |
| 稳定时间（典型） | 3.5s |
| 外部砝码校准 | 可选 |
| 内部砝码校准 | ProFact, 温度漂移和时间触发的全自动内校 |
| 尺寸 | 263x487x322 mm |
| 称量盘上方的有效高度 | 111 mm |
| 接口 | RS-232C, Bluetooth, Ethernet, PS2, LocalCAN |
| Linearity | 6 µg |
| Size of weighing pan | 40x40 mm |
| Minimum weigh (typical acc. USP) | 2.1 mg |
| Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2) | 0.14 mg |
| Sensitivity offset | 4x10-6·Rnt |
所有评论仅代表网友意见，与本站立场无关。