美国Oakland塑料薄膜纸张测厚仪 MX-1100
可测样品测量范围行程（探头缩回高度）精度平行度测头尺寸测头压力循环速率下落速率仪器尺寸（宽x长x高）标准配置选配件符合标准。
详细参数 | |
| 所有的薄膜和薄片材料 | |
0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - ，0 - ，0 - ，0 - 或其他测量范围 当订购公制单位时，请um或mm显示 | |
| 对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率：或或，量程在0 - 200mil时； 或1um或，量程在0 - 300mil时。 | |
| +/-或+/-或+/- | |
| +/-或更好 | |
| 直径（薄膜） 直径（纸张） 或针对其他材料的其他尺寸 | |
- （/cm2），薄膜 纸张或针对其他材料的其他设置 | |
| 20/分钟（40/分钟，可选），薄膜 20/分钟（12/分钟，可选），纸张 或针对其他材料的其他设置 | |
| 1mm/sec，纸张 | |
| 25 x 25 x 28 cm | |
标配 主机，标准厚度片，脚踏开关 | |
| 打印机，质量控制软件（Quality Control Software） | |
| ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370 | |
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